Hommel-Etamic Nanoscan (JENOPTIK)

ДВА В ОДНОМ. HOMMEL nanoscan 855 комбинированный прибор для одновременного контроля шероховатости и контура поверхности за один проход.

УЛЬТРА-ТОЧНАЯ ОПТИКО-МЕХАНИЧЕСКАЯ ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ СИСТЕМА. Для синхронного измерения характеристик шероховатости и контура поверхности на криволинейных и наклонных поверхностях необходима высокоточная измерительная система с широким измерительным диапазоном.  HOMMEL nanoscan 855 это СВЕРХ-точная измерительная система с разрешением 0,6 нанометра на диапазоне 24 мм. Одновременно с высокой точностью хода данный прибор обладает превосходными точностными характеристиками параметров микро-геометрии и контура в широком диапазоне.

АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ ЦИКЛ ИЗМЕРЕНИЯ. Станция для контроля шероховатости nanoscan 855 наряду с высокой точностью обеспечивает высокую скорость измерения полностью в  ЧПУ режиме, что гарантирует высокую производительность в контроле качества.

  • Характеристики
  • Применение
  • Видео и обзоры
  • Скачать
  • Задать вопрос

Функциональные характеристики

 
  • Эргономичный дизайн
  • Система активного подавления вибрации
  • Управление станции с джойстиком
  • Измерение шероховатости и контура за один проход
  • Нет необходимости в выравнивании поверхности перед измерением, что экономит время
  • Возможность измерения шероховатости на сферах
  • Сверхнизкие внутренние шумы
  • Подходит для измерений поверхностей с высокой чистотой обработки
  • Измерение параметров элементов профиля с высокой точностью:
    окружности (радиуса, диаметры, межцентровые расстояния), участки контура (расстояния, углы, шаги, прямолинейность, автовыравнивание) и т.д.

Технические характеристики

 

Параметр

ед. изм.

Величина

В горизонтальной плоскости

Длина трассирования

мм

0,1 ... 200

Скорость трассирования

мм/с

0,05 ... 10

Скорость измерения

мм/с

0,05 ... 5

Интервал выборки данных

мкм

0,01 ... 10

Прямолинейность хода

мкм/мм

0,4 / 200

В вертикальной плоскости

Измерительный диапазон

мм

24

Разрешение

нм

0,6

Измерительное усилие

мН

±0,5 ... 50

Вы можете приобрести это оборудование

В Санкт-Петербурге и Северо-Западном регионе

1. Позвонив по телефону в +7 (812) 336-4050

2. Оставив заявку на почте: Этот адрес электронной почты защищен от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.

3. Или заполнив форму заявки

В других регионах РФ

1. Позвонив по телефону в +7 (812) 336-4050

2. Оставив заявку на почте: Этот адрес электронной почты защищен от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.

3. Или заполнив форму заявки

Вы также можете проконсультироваться по всем интересующим вопросам с нашими специалистами по телефонам, указанным выше.

Форма заявки

Продукция из этой категории

  • Hommel-Etamic T1000 Basic (JENOPTIK)

    Портативный прибор для контроля шероховатости поверхности. Разрешение R: 0,01 мк

  • Hommel-Etamic T8000 (JENOPTIK)

    Измерительная станция для контроля шероховатости и контура поверхности Разрешение R: до 1нм Разрешение С: 0,05мкм

  • Hommel-Etamic Nanoscan (JENOPTIK)

    Измерительная станция для высокоточного контроля шероховатости и контура поверхности за один проход. Разрешение С и R: 0,6нм

  • Hommel-Etamic W5 (JENOPTIK)

    Профилометр W5 – самый компактный прибор в своём классе, предназначен для измерения параметров шероховатости поверхности. Большой выбор измерительных щупов и крепёжных аксессуаров в сочетании с программным обеспечением EVOVIS-mobile позволят решить широкий спектр задач контроля шероховатости.